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P760/01_2760nm單模垂直腔面發射激光器
VCSEL-20-M激光控制驅動器
ZNSP25.4-1IR拋光硫化鋅(ZnS)多光譜(透明)窗片 0.37-13.5um 25.4X1.0mm（晶體/棱鏡
HB-C0BFAS0832x4 QPSK C波段相干混頻器（信號解調/鎖相放大器等）
Frequad-W-CW DUV 單頻連續激光器 213nm 10mW Frequad-W
ER40-6/125截止波長1300nm 高摻雜EDF摻鉺光纖
SNA-4-FC-UPC日本精工法蘭FC/UPC（連接器/光纖束/光纜）
GD5210Y-2-2-TO46905nm 硅雪崩光電二極管 400-1100nm
WISTSense Point 緊湊型高精度光纖傳感器解調儀（信號解調/鎖相放大器等）
CO2激光光譜分析儀
1030nm超短脈沖種子激光器PS-PSL-1030
FLEX-BF裸光纖研磨機
NANOFIBER-400-9-SA干涉型單模微納光纖傳感器 1270-2000nm
高能激光光譜光束組合的光柵 （色散勻化片）
350-2000nm 1倍紅外觀察鏡
S+C+L波段 160nm可調諧帶通濾波器
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掃描開爾文探針(分辨率20um)|材料表面分析（顯微OCT）） 掃描開爾文探頭可以測量 CPD（接觸電位差）值，評估半導體和導電材料的功函數。測量不僅可以在樣品表面的單點進行，還可以對整個表面進行掃描。 功函數測量在半導體物理學中te別有用，因為它提供了被測材料費米級的位置。
更新時間：2025-11-11
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瀏覽量：1376
FS70L-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1X管鏡頭 TV接口激光) 特點 采用Mitutoyo遠場校正鏡頭 三端輸出設計可輕松接收視頻 轉盤可接最多四個物鏡
更新時間：2024-12-05產品型號：FS70L4-TH瀏覽量：1433
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